Hotline: 0984.843.683 Email: info@ttech.vn  Zalo: 0984.843.683

Máy đo chiều dày lớp phủ và phân tích thành phần kim loại bằng tia X - Fischer - XDV-µ

Mã sản phẩm: XDV-µ
Sử dụng cho Model:
Hãng SX: Fischer
Xuất xứ
Bảo hành
Tình trạng

Tình trạng: Còn hàng

Đặt hàng

Thiết bị đo chiều dày sơn và phân tích thành phần kim loại bằng tia X

Model : XDV-µ

Hãng sản xuất : Fischer

Yêu Cầu Giá Tốt

Thông tin sản phẩm

Thiết bị đo chiều dày sơn và phân tích thành phần kim loại bằng tia X

Model :XDV-µ

Hãng sản xuất : Fischer

X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with a polycapillary x-ray optics for automated measurements and analyses of coating thicknesses and compositions on very small components and structures  










Bình luận