Hotline: 0984.843.683 Email: info@ttech.vn  Zalo: 0984.843.683

Máy đo chiều dày lớp phủ và phân tích thành phần kim loại bằng tia X - Fischer - XRAY XDV-SDD

Mã sản phẩm: X-RAY XDV-SDD
Sử dụng cho Model:
Hãng SX: Fischer
Xuất xứ
Bảo hành
Tình trạng

Tình trạng: Còn hàng

Đặt hàng

Thiết bị đo chiều dày sơn và phân tích thành phần kim loại bằng tia X

Model : XRAY XDV-SDD

Hãng sản xuất : Fischer

Yêu Cầu Giá Tốt

Thông tin sản phẩm

Thiết bị đo chiều dày sơn và phân tích thành phần kim loại bằng tia X

Model : XRAY XDV-SDD

Hãng sản xuất : Fischer

High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring system with a programmable XY-stage and Z-axis for automated measurements of very thin coatings and for trace analysis









Bình luận