Máy đo độ dày lớp phủ ElektroPhysik MiniTest 725F2
Model: MiniTest 725F2
Cảm biến kép: Nền kim loại từ tính và kim loại phi từ tính (kim loại màu).
Thang đo F: 0 – 2000 µm. Trên nền kim loại từ tính.
Độ chính xác: ± (1.5 µm + 0.75%) giá trị đọc được.
Diện tích điểm đo tối thiểu: Ø 10 mm.
Dung lượng bộ nhớ: 10 nhóm, 10,000 giá trị.
Nhiệt độ vận hành: – 10 độ C đến + 60 độ C.
Nhiệt độ bảo quản: – 20 độ C đến + 70 độ C.
Phát tín hiệu bíp khi kết thúc lấy mẫu và hiển thị kết quả đo.
Giao thức truyền thông: Bluetooth, USB.
Các chế độ hiệu chuẩn: Factory calibration, 1-pont calibration (Zero), 2-point, 3-point calibration, Special calibration method for rough substrates, Adjustable offset
Tiêu chuẩn: DIN EN ISO 1461. DIN EN ISO 2064. DIN EN ISO 2178. DIN EN ISO 2360. DIN EN ISO 2808. DIN EN ISO 3882. ISO 19840. ASTM B 244. ASTM B 499. ASTM D 7091. ASTM E 376. AS 3894.3. SS 184160. SSPC-PA 2.
Kích thước: 157 mm x 75,5 mm x 49 mm.
Trọng lượng: 175 g.