| Dải đo bức xạ ion hóa photon DER |
0,1 … 100 000 μSv/h |
| Hiển thị phạm vi bức xạ ion hóa photon DER |
0,01 … 100 000 μSv/h |
| Giới hạn sai số tương đối cho phép chính khi đo bức xạ ion hóa photon DER ở hiệu chuẩn 137 Cs với xác suất tin cậy là 0,95 |
(15+2/M) %,
trong đó M là giá trị không thứ nguyên có giá trị bằng số với giá trị DER được đo bằng μSv/h
|
| Dải năng lượng của bức xạ ion hóa photon đang được đăng ký |
0,012 … 3 МеV |
| Sự phụ thuộc năng lượng của số đọc của máy đo phóng xạ khi đo bức xạ ion hóa photon DER so với 0,662 MeV ( 137 Cs)
– trong dải năng lượng từ 0,012 đến 0,04 MeV, không lớn hơn
– trong dải năng lượng từ 0,04 đến 1,25 MeV, không lớn hơn
|
± 35 %
± 25%
|
| Dải đo mật độ dòng hạt beta bề mặt |
5 … 999 999 phần./(cm 2 ×phút) |
| Hiển thị phạm vi mật độ thông lượng hạt beta bề mặt |
1 … 999 999 phần./(cm 2 ×phút) |
| Phạm vi đo hoạt độ bề mặt của hạt nhân phóng xạ phát beta |
0,22 … 9 999 Bq/ cm2
đối với loại nguồn С0 ( 90 Sr/ 90 Y)
(hiệu suất của nguồn loại С0 là 0,377)
|
| Hiển thị phạm vi hoạt động bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát beta |
0,01 … 9 999 Bq/ cm2 |
| Giới hạn sai số tương đối cho phép chính khi đo mật độ thông lượng hạt beta bề mặt trong khoảng từ 5 phần./(cm 2 ×min) đến 999 999 phần./(cm 2 ×min) ở hiệu chuẩn 90 Sr/ 90 Y với xác suất tin cậy của 0,95 |
(20+150/F) %,
Trong đó F là giá trị không thứ nguyên có giá trị bằng số với giá trị mật độ thông lượng hạt beta bề mặt được đo từng phần./(cm 2 ×min)
|
| Giới hạn sai số tương đối cho phép chính khi đo hoạt độ bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát beta trong khoảng từ 0,22 Bq/cm 2 đến 9 999 Bq/cm 2 ở mức hiệu chuẩn 90 Sr/ 90 Y với xác suất tin cậy là 0,95 từ loại nguồn С0 |
(20+10/А) %,
trong đó А là giá trị không thứ nguyên, về mặt số học bằng giá trị hoạt độ bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát xạ beta đo bằng Bq/cm 2
|
| Dải năng lượng của hạt beta được đăng ký |
0,15… 3 MeV |
| Dải đo mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt |
5 … 999 999 phần./(cm 2 ×phút) |
| Hiển thị phạm vi mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt |
1 … 999 999 phần./(cm 2 ×phút) |
| Phạm vi đo hoạt độ bề mặt của hạt nhân phóng xạ phát alpha |
0,2 … 9 999 Bq/cm 2
cho loại nguồn П9 ( 239 Pu)
(hiệu suất của nguồn loại П9 là 0,490)
|
| Hiển thị phạm vi hoạt động bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát ra alpha |
0,01 … 9 999 Bq/ cm2 |
| Hiển thị phạm vi đếm xung từ bộ đếm bức xạ alpha, beta, gamma |
0,001… 9 999 cps |
| Giới hạn sai số tương đối cho phép chính khi đo mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt trong phạm vi từ 5 phần./(cm 2 ×min) đến 999 999 phần./(cm 2 ×min) ở hiệu chuẩn 239 Pu với xác suất tin cậy là 0,95 |
(20+150/F) %,
Trong đó F là giá trị không thứ nguyên có giá trị bằng số với giá trị mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt được đo từng phần./(cm 2 ×min)
|
| Giới hạn sai số tương đối cho phép chính khi đo hoạt độ bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát alpha trong khoảng từ 0,2 Bq/cm 2 đến 9 999 Bq/cm 2 ở mức hiệu chuẩn 239 Pu với xác suất tin cậy là 0,95 từ loại nguồn П9 tiêu chuẩn |
(20+10/А) %,
trong đó A là giá trị không thứ nguyên có giá trị bằng số với giá trị hoạt độ bề mặt của các hạt nhân phóng xạ phát xạ alpha đo bằng Bq/cm 2
|
| Khu vực cửa sổ |
13,8 cm 2 |
| Độ nhạy điển hình đối với bức xạ ion hóa photon có năng lượng 0,662 MeV ( 137 Cs) |
4,5 cps/(μSv/h) |
| Thời gian cài đặt chế độ hoạt động của máy đo phóng xạ, không lớn hơn |
1 phút |
| Thời gian hoạt động liên tục của máy đo bức xạ khi được cấp nguồn từ pin mới gồm hai tế bào điện AAA 1 200 mAh trong điều kiện bình thường và có nền gamma không quá 0,5 μSv/h, tắt âm thanh của lượng tử gamma đã đăng ký và tắt đèn nền của thang đo, không ít hơn |
2 000 giờ |
| Điện áp cung cấp hoạt động |
3V |
| Giới hạn sai số tương đối cho phép bổ sung khi đo bức xạ ion hóa DER, mật độ thông lượng hạt beta bề mặt và mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt trong dải điện áp nguồn từ 2,4 V đến 3,2 V |
± 5% |
| Giới hạn sai số tương đối cho phép bổ sung khi đo bức xạ ion hóa DER, mật độ thông lượng hạt beta bề mặt và mật độ thông lượng hạt alpha bề mặt do thay đổi nhiệt độ môi trường từ âm 20 °С đến + 50 °С |
± 0,5 %
trên mỗi 1°С độ lệch so với 20°С
|
| Nhiệt độ hoạt động |
– 20 … + 55°С |
| Kích thước tổng thể của máy đo bức xạ, không nhỏ hơn |
160×75×37mm |
| Chiều dài của thanh kính thiên văn gấp |
382mm |
| Chiều dài của thanh kính thiên văn chưa mở |
937mm |
| Trọng lượng của một thanh kính thiên văn |
0,21kg |
| Trọng lượng của bức xạ kế không có thanh thiên văn, không lớn hơn |
0,4 kg |
| Trọng lượng của bức xạ kế trong bao bì, không lớn hơn |
4,2 kg (thùng – 3,2 kg) |