Hotline: 0984.843.683 Email: info@ttech.vn  Zalo: 0984.843.683

Non-contact Mono-crystalline/Polycrystalline Silicon wafer/blick lifetime measurement HF-300 Napson

Mã sản phẩm: HF-300
Sử dụng cho Model:
Hãng SX: Napson
Xuất xứ
Bảo hành
Tình trạng

Tình trạng: Còn hàng

Đặt hàng
Non-contact, non-damage measurement by μ-PCD
Suitable for mono-crystalline and polycrystalline silicon sample
Multipoint measurement & mapping image
Passivation with exclusive capsule (for wafer, bulk sample)

Liên Hệ Hỗ Trợ

    • SĐT: 0984 843 683

    • Mail: info@ttech.vn

      • Zalo: 0984.843.683

Thông tin sản phẩm

Applications
Silicon wafer, blick(bulk) [Mono-crystalline, Polycrystalline]


Sample sizes
[Wafer] <Square> ~ 210x210mm, <Circle> ~8 inch


[Blick] Max. 210(W) x 210(H) x 500(D) mm


Measuring range
0.1 μS ~ 1000μS (*Compatible to resistivity range ; 0.1 ~ 1,000Ω・cm)


<Laser unit> Type : Semiconductor laser diode,
Wave length : 905nm, Peak power : 60W, Pulse width : 80nS

Bình luận

Sản phẩm khác