Hotline: 0984.843.683 Email: info@ttech.vn  Zalo: 0984.843.683

Wafer flatness measurement system FLA-200 Napson

Mã sản phẩm: FLA-200
Sử dụng cho Model:
Hãng SX: Napson
Xuất xứ
Bảo hành
Tình trạng

Tình trạng: Còn hàng

Đặt hàng
Measures Thickness, TTV, Bow, Warp and site and global Flatness (ASTM compliance)
Measures all materials including Si, GaAs, Ge, InP, SiC
Full 500 micron thickness measurement range without re-calibration
2-D /3-D Mapping software

Liên Hệ Hỗ Trợ

    • SĐT: 0984 843 683

    • Mail: info@ttech.vn

      • Zalo: 0984.843.683

Thông tin sản phẩm

Applications


Semiconductor materials, Solar-cell materials (Silicon, Polysilicon, SiC etc)
Silicon-related epitaxial materials, Ion-implantation sample
Chemical compound semiconductor (GaAs Epi, GaN Epi, InP, Ga etc)

Sample sizes


3~8 inch


Measuring range


Thickness: 200 –1200μm
Bow : +/-350μm
Warp: 350μm

Bình luận

Sản phẩm khác